KSHW-A型红外薄膜测厚仪

KSHW-A型红外薄膜测厚仪

红外测厚仪是一种非接触式测厚仪，可广泛应用于各种透光半透光塑料薄膜、纸张、涂胶层等产品的在线测量监控。

仪器采用精密“口”字型扫描机构连续对被测物进行宽度方向上的左右扫描，主处理器采用工控机，它具有数据处理、扫描测量、任意点定点测量、图形曲线显示、偏差报*、数据存储查询等功能。

技术参数：

测量范围：1~400um（可按照要求设定范围）

分辨率：0.1um

测量精度：1%H±0.3um

扫描宽度：按照客户要求制定

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