美国台式x射线膜厚测试仪

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最后更新：	2021-03-23 09:27
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详细说明

美国台式x射线膜厚测试仪

美国台式x射线膜厚测试仪可分析的样品种类繁多，包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等，检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围，覆盖元素周期表中从AL13到U92间的元素。

它的优势有高性能、高精度、长期稳定性：快速精确的分析带来生产成本最优化，精确测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.坚固耐用的设计：可靠近生产线或在实验室操作，生产人员易于使用.简单的校准调试：在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果，方法建立只需几分钟，我们提供认证标准片以确保最佳精确度（A2LA和ISO/IEC17025），预置了多种校准参数.

bowman膜厚测试仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量。

bowman膜厚测试仪优势有:

1.高性能、高精度、长期稳定性、快速精确的分析带来生产成本最优化，精确测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.

2.坚固耐用的设计：可靠近生产线或在实验室操作，生产人员易于使用.

3.简单的校准调试：在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果，方法建立只需几分钟，我们提供认证标准片以确保最佳精确度（A2LA和ISO/IEC17025），预置了多种校准参数.

bowman膜厚测试仪可分析多种样品形状和尺寸：可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件，提供多种硬件供选配，满足各种需要.

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