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美国台式x射线膜厚测试仪

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最后更新: 2021-03-23 09:27
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美国台式x射线膜厚测试仪

 
 美国台式x射线膜厚测试仪可分析的样品种类繁多,包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等,检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围,覆盖元素周期表中从AL13到U92间的元素。
它的优势有高性能、高精度、长期稳定性:快速精确的分析带来生产成本最优化,精确测定元素厚度,优化的性能可满足广泛的元素测量.坚固耐用的设计:可靠近生产线或在实验室操作,生产人员易于使用.简单的校准调试:在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果,方法建立只需几分钟,我们提供认证标准片以确保最佳精确度(A2LA和ISO/IEC17025),预置了多种校准参数.
bowman膜厚测试仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量。
bowman膜厚测试仪优势有:
1.高性能、高精度、长期稳定性、快速精确的分析带来生产成本最优化,精确测定元素厚度,优化的性能可满足广泛的元素测量.
2.坚固耐用的设计:可靠近生产线或在实验室操作,生产人员易于使用.
3.简单的校准调试:在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果,方法建立只需几分钟,我们提供认证标准片以确保最佳精确度(A2LA和ISO/IEC17025),预置了多种校准参数.
bowman膜厚测试仪可分析多种样品形状和尺寸:可分析多种样品类型,从微小的电子元件到浴室配件,提供多种硬件供选配,满足各种需要.
联系人:舒翠 136 0256 8074
电话:0755-29371655 
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