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X-RAY膜厚测试仪 美国博曼膜厚仪

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详细说明

X-RAY膜厚测试仪 美国博曼膜厚仪

 
 X-RAY膜厚测试仪 美国博曼膜厚仪1,可以测量多层膜中每一层的厚度
2,三维的厚度型貌
3,远程控制和在线测量
4,可做150mm or 300mm 的大范围的扫描测试
5,丰富的材料库:操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据,基本上的常用材料都包括在这个材料库中.用户也可以在材料库中输入没有的材料.
6,软件操作简单,测速快:膜厚测量仪操作非常简单,测量速度快:100ms-1s.
7,软件带有构建材料结构的拓展功能,可对单/多层薄膜数据进行拟合分析,可对薄膜材料进行预先模拟设计.
8,软件带有可升级的扫描功能,进行薄膜二维的测试,并将结果以2D或3D的形式显示.软件其他的升级功能还包括在线分析软件,远程控制模块等>膜厚仪的技术参数
博曼膜厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度。
联系人:舒翠 136 0256 8074
电话:0755-29371655 
传真:0755-29371653  
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地址:深圳市宝安沙井北环大道鸿安大厦502 
 
 
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